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测量系统分析MSA （半导体补充要求）

两天课程

理解MSA对SAC供应商控制和改进生产过程的重要性；提供分析测量系统时使用统计方法的实际知识。

培训特色：

课程通过实际演练、生动的实例讲解以及深入的案例研究等方式加强学员对课程主题的深入理解，鼓励学员全部参与。

参加人员：

质量经理、质量技术人员、工程师、管理代表、对使用或审核MSA有兴趣的人员、实验室技术人员和负责过程改进的人员。

培训教材：

每位参加人员将获得一套培训手册，包括工作表和所有的小组练习材料。请自带一个计算器。

课程内容

概述
- 什么是测量系统
- 什么是测量误差
- 为何要做测量系统分析
MSA和QS9000/TS16949
- 半导体行业对测量系统的要求
- 如何满足ISO/TS16949对MSA的要求
- 优胜者的方法
测量系统的统计特性
- 理想状态
- 变差的表达
- 统计特性
分辨率
- 量具的分辨力
- 测量系统的分辨力
- 数据集的概念偏倚线性和稳定性
开展重复性和再现性分析
属性类量具
比较工具
- 图析
- ANOVA
MSA技术总结
练习
- 练习一：定义测量系统
- 练习二：偏倚
- 练习三：线性
- 练习四：测量方法
- 练习五：重复性和再现性
- 练习六：图析法
- 练习七：依据数据的决策

学员背景要求：

算术的基本知识，对基础应用统计学的部分理解，统计过程控制的基本背景很重要。

培训目标：

理解APQP的目的、原理、过程和方法；
定义和理解测量系统及测量的变量原因
确定测量系统分析的范围、资源、人员需求，制订分析计划；
具备基本的运算能力，以评价测量系统存在的偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性、准确度和精确度；
通过测量系统分析，提高选用、维护和改进测量系统有效性的能力；
满足ISO/TS16949和MSA手册等的要求。

奥曼克（上海）咨询有限公司
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